XM-3010 高分辨纳米台式显微 CT 属于锥束 X 射线计算机断层成像，基于 X 射线物质衰减规律，实现无损三维内部成像。
X 射线衰减成像：微焦点射线管发射锥形 X 射线束，X 射线穿过样品时，由于样品内部不同组分的密度和原子序数不同，对 X 射线的吸收衰减程度不同，形成明暗不同的二维投影图像。
多角度采集：高精度样品台带动样品旋转。采集方式可采用步进采集或连续采集等。步进采集：样品台每旋转一定角度后停止，由平板探测器采集一幅二维投影；连续采集：样品台连续旋转，平板探测器按设定角度或时间间隔同步采集投影，一次扫描可获取数百至上千幅不同角度的投影图像。
计算机三维重建：将全部二维投影导入工作站，通过滤波反投影 / 迭代重建算法，计算生成各向同性三维体数据，得到样品内部完整三维结构，可任意切片、三维可视化、孔隙、缺陷定量分析。
