NatureXAS 2500是浪声科学集多年技术沉淀，自主研发的一款多功能X射线吸收精细结构谱仪，仪器光路布局采用罗兰圆和大尺寸弯晶元件，搭配独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAS和XES和XRD三种测量模式，并轻松相互切换。 主要用于元素氧化态，键共价性以及化学环境等方面的研究，对于材料化学和电子结构分析、揭示催化剂活性中心的价态和配位结构和催化反应机理、反应路径具有重要意义。
NatureXAS 2500旨在将依赖大科学装置的尖端表征技术，转化为科研工作者每日可及、稳定可靠的常规分析工具。研究者无需再耗时等待稀缺的同步辐射机时，即可在自有实验室中灵活、便捷地获取高质量的XAFS数据。它极大地降低了该前沿技术的使用门槛，使得对材料关键元素局域电子结构与配位环境的深度分析，成为支撑日常科学发现与技术迭代的常规工具，助力用户在材料设计、机理阐释等核心环节取得突破。
独特地集成了XAS吸收谱、XES发射谱与XRD衍射三大检测模式，支持一键自由切换。XRD模式的深度兼容，不仅能获取元素局域结构与电子态信息，更能同步得到材料的晶体结构与物相组成，实现从原子排布到晶体构型的全方位、多尺度微观结构解析，为复杂材料研究提供更完整的解决方案。
氦气保护罩采用快拆设计，一键即可完成拆装。其精密结构确保在操作后光路自动保持原位，无需任何手动校准或维护，极大简化了在保护性气氛下的实验流程。
首创“动态自适应罗兰圆吸收谱二级光学伺服机构”专利技术，在更换晶体时，无需手动调整光路、无需重复校正、无需干预维护。系统内置伺服驱动与光学编码器，构成高精度双反馈控制系统，实时监测并自动校准光路位置，实现全自动智能化运行，确保实验连续高效。
自主研发的软件界面设计直观友好，核心仪器参数、光路状态、样品环境及数据质量等关键信息，集中实时展示，真正实现 “一键掌控，全程可视”，大幅降低操作门槛，提升实验效率与可靠性。
仪器预留丰富的标准化接口，可轻松兼容电化学池、气相/液相反应池、高低温装置等多种原位/工况测试附件，实现对材料在工作状态下结构演变的实时、动态追踪，为机理研究提供直接证据。
催化材料 XAFS可直接表征催化剂中活性中心（如贵金属Pt、Pd，或非贵金属Fe、Co单原子） 在反应条件下的精确配位结构、氧化状态及电子结构的动态变化。通过原位监测反应中间体与活性位点的相互作用，为理性设计高效、稳定的工业催化剂，以及深入理解催化反应机理，提供了最直接的实验依据。 |
电池研究 XAFS能够在真实充放电工况下，对电极材料（如锂/钠/锌离子电池正负极、固态电解质）中的关键金属元素（如Mn, Ni, Co, Fe等） 进行原位跟踪，精确揭示其在循环过程中的价态演变、局域结构畸变、配位环境及离子迁移行为。这为理解容量衰减机制、界面副反应以及开发下一代高能量密度、长寿命电池提供了不可或缺的原子尺度洞察。 |  纳米与功能材料 XAFS能够精准测定材料中特定元素（如掺杂剂、活性位点）的局部配位环境、键长、无序度及电子结构，尤其适用于表征非晶态、团簇、界面及低维纳米材料。这为理解材料的独特光学、电学、磁学及催化性能起源，并实现性能的定向调控与优化设计，提供了关键的结构信息基础。 |
地质与矿物学 XAFS能够精确测定岩石、矿物及熔体中关键成矿元素或微量元素（如稀土、过渡金属） 的赋存状态、价态、配位对称性及局部结构有序度。通过揭示元素在岩浆演化、热液成矿及表生风化等过程中的分异、迁移与富集机制，XAFS为矿床成因研究、地球化学过程模拟及矿产资源利用提供了原子尺度的核心约束。。 |
XAFS能够在不破坏生物样本天然状态的前提下，选择性解析蛋白质、酶及生物大分子中金属辅因子（如Fe、Mn、Zn、Cu等） 的精确配位几何、氧化态及其在催化循环中的动态变化。这为了解金属酶的催化机制、金属稳态的调控以及金属药物与靶点的相互作用，提供了无可替代的直接结构信息。 |
XAFS能够直接鉴定土壤、水体及大气颗粒物中重金属与类金属污染物（如As, Cr, Cd, Pb） 的化学形态、价态及其微观配位结构。通过阐明污染物在环境界面上的吸附、络合、氧化还原等过程机理，XAFS为准确评估环境风险、开发高效污染修复技术，提供了至关重要的分子水平证据。 |
| 仪器尺寸 | 1400mm x 1100mm x 1855mm（W×D×H） |
| 探测器 | 高灵敏度硅漂移探测器（SDD） |
| 核心光路 | 罗兰圆半径：500mm 角度重现性：0.001° 全谱角度偏差：不超过±0.02 |
| 测量模式 | XAS、XES、XRD三种模式可自由切换 |
| 核心光源 | 金属陶瓷X射线管（可选配Mo、Cu、Ag等多种靶材） |
| 能量范围 | 3keV – 28keV |
| 能量分辨率 (ΔE/E) | XANES：0.1-1.5eV@8keV，EXAFS：1.5-10eV |
| 光通量 | ＞2,000,000phs/s @7 - 9keV，保证快速采集与高信噪比数据 |
| 数据采集速度 | 单次完整的XAFS谱图采集典型时间 ≤10分钟 |
| 样品环境 | 大气或惰性气体环境可选，单位/多位进样可选 样品环境 |
| 工作环境温度 | 10℃~30℃ |
| 供电电源 | 单相AC220V，20A，50Hz |
