珠宝首饰 可快速且无损地分析黄金含量及杂质银、铜等元素，能确保珠宝首饰的成色和纯度符合标准，广泛应用于首饰厂原材料检验、生产过程控制、质量控制及成品检验，以及金店、珠宝展厅的贵金属检测等。 |  纳米技术 能够检测高纯金中痕量杂质元素，为制造高纯度金纳米材料提供精准的成分分析，助力研发高性能的纳米传感器、纳米催化剂、功能性涂层等。 |
航空航天 在航空航天领域，ScopeX G59用于检测高纯金材料中的杂质含量，确保其纯度符合航空级标准，以满足航空航天部件对材料性能和可靠性的严格要求。 |
电子与半导体 高纯金在电子元器件、芯片键合丝、高端触点和封装等核心部位的应用极为广泛。这些部位的杂质含量会显著影响电子元器件和集成电路的电学性能和长期可靠性。因此，ScopeX G59在检测微量杂质元素、确保纯度符合电子与半导体制造极高标准方面发挥着关键作用。 |
| 仪器构型 | 台式仪器 |
| 重量 | 46kg |
| 主机尺寸 | 570mm×400mm×400mm（L×W×H） |
| 样品仓尺寸 | 365mm×300mm×78mm（L×W×H） |
| 检测范围 | Al(铝)—U(铀) |
| 语言 | 中文、英语等多国语言 |
| 探测器 | 超大面积SDD探测器，为仪器带来优异的计数率和出色的能量分辨率。 |
| 光路结构 | 垂直光路 |
| 光管窗口 | 铍窗 |
| 准直器 | 0.5mm/1.0mm/2.0mm/3.0mm可自由切换，用户可以根据分析需求和样品特性灵活选择合适的准直器尺寸，以确保XRF仪器发挥最佳性能。 |
| 滤光片 | 配备多滤光片可自动切换,可以显著提升分析的质量和效率，使得仪器能够更好地适应各种分析场景，为用户提供更加精确和可靠的分析结果。 |
| 精度 | ±0.001%（99999金） |
| 电脑参数 | I5四核 |
| 数据打印 | 蓝牙打印机 |
| 算法 | 融合了校正曲线法、基本参数法（FP法）等XRF分析方法，消除背景差异，减少分析误差，提高检测精准度！ |
| 一键测试按钮 | 有 |
| 摄像头 | 高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素 |
