XAFS（X射线吸收精细结构）技术通过测量材料对单色X射线吸收系数随能量的变化，揭示目标原子尺度的微观化学环境与结构信息。其核心原理在于：当入射X射线能量达到样品中特定元素内层电子的结合能时，电子发生电离跃迁，形成特征的吸收边；在吸收边高能侧，出射光电子波被周围邻近原子散射后与初始波发生干涉，从而在吸收谱上产生精细的振荡信号。这些振荡函数经数学变换后，可精确解析出吸收原子周围的配位原子种类、键长、配位数及无序度等关键结构参数，如同为原子拍摄了一张揭示其邻近结构的“局部快照”。

仪器通过高亮度X射线源、球面弯曲晶体单色聚焦系统及高分辨探测器，成功在常规实验环境中复现了这一强大的同步辐射表征技术，实现了对材料电子结构及原子构型的便捷、精准探测。