1、粉体样品：建议用量≥0.5 g，320目细度。

2、块体样品：样品尺寸应控制在约LWH=100 × 130 × 50 mm以内。需配置Z轴样品台附件。

3、薄膜样品：对于纯片状薄膜，建议配合Z轴样品台及无背景硅载片使用；对于负载在ITO、FTO玻璃等基材上的薄膜，可使用Z轴样品台，或根据玻璃载片尺寸选用镂空样品载片。